Отрасль "Общие профессии производства изделий электронной техники"
2-й разряд
Характеристика работ:
- Юстировка радиодеталей до номинала методом шлифования (грубое шлифование) токопроводящего слоя.
- Определение величины сопротивления (резисторы) и емкости (конденсаторы) по показаниям контрольно-измерительных приборов.
- Правка выводов после шлифования.
Должен знать:
- наименование и назначение важнейших частей и принцип действия станков для подгонки номиналов радиодеталей;
- назначение и условия применения контрольно-измерительных инструментов и приборов;
- методику получения заданного номинала в зависимости от исходных величин омического сопротивления, емкости;
- основные свойства керамики и токопроводящих слоев.
Примеры работ:
- 1. Конденсаторы керамические - подгонка емкости на станке до заданного номинала с отклонением величины емкости +/- 5 - 10%.
- 2. Пакеты или заготовки конденсаторов различных типов с серебросодержащими электродами - подгонка емкости.
- 3. Пьезоэлементы толщиной 1 мм - подгонка с использованием подгоночных машин; измерение частоты.
- 4. Резисторы постоянные и переменные - подгонка на станках до заданного номинала с отклонениями +/- 10 - 20%.
3-й разряд
Характеристика работ:
- Юстировка сопротивлений до номинала с точностью +/- 5 - 2% с помощью луча оптического квантового генератора.
- Подгонка в заданный номинал сложных малогабаритных резисторов с лужением и пайкой концов провода диаметром 0,02 - 0,03 мм и прецизионных конденсаторов.
- Подгонка номинала переменных объемных резисторов, керамических конденсаторов постоянной емкости методом шлифования (тонкое шлифование) и полирования.
- Подбор режимов шлифования и полирования.
- Шлифовка ребер микромодулей и доведение их до заданных размеров.
- Установка прибора на заданный номинал и измерение величины сопротивления резисторов и емкости конденсаторов.
- Наладка станков автоматов и полуавтоматов для шлифования.
- Определение качества шлифованной поверхности.
Должен знать:
- устройство и правила настройки станков для подгонки номиналов радиодеталей;
- устройство специальных приспособлений, установок юстировки сопротивлений, инструментов и контрольно-измерительной аппаратуры;
- правила установки деталей и инструмента;
- способы шлифования;
- правила определения допусков на заданный номинал;
- основные свойства материалов радиодеталей и токопроводящих слоев;
- основы электротехники в пределах выполняемых работ.
Примеры работ:
- 1. Конденсаторы керамические, прецизионные - подгонка емкости в заданный номинал.
- 2. Металлические валы для непроволочных резисторов - шлифование, доводка.
- 3. Микромодули - шлифование торцов и доведение их до заданных размеров.
- 4. Микросборки, залитые компаундом, - шлифование граней и доведение их до заданных размеров.
- 5. Пьезоэлементы толщиной 1 мм - ручная и машинная подгонка,
- измерение частоты с точностью 1 x 10 .
- 6. Резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью +/- 5 - 2%.
4-й разряд
Характеристика работ:
- Юстировка сопротивлений до номинала с точностью +/- 2 - 1% с помощью луча оптического квантового генератора.
- Подгонка в заданный номинал точных малогабаритных радиодеталей со сваркой концов микропровода толщиной до 12 микрон и точностью подгонки до 0,005% под микроскопом с использованием измерительных приборов со степенью точности 0,005.
- Настройка микроскопа и измерительных приборов.
- Проверка величины сопротивления резистора и емкости конденсатора.
- Настройка и юстировка электронных приборов средней сложности в соответствии с техническими условиями.
- Электрическая проверка электронно-измерительных систем масс-спектрометров с использованием контрольно-измерительных приборов.
- Определение правильности сборки анализатора и его работоспособности в условиях высокого вакуума.
Должен знать:
- устройство, принцип действия, электрические схемы и режимы работы применяемого оборудования и приборов;
- последовательность выполнения технологического процесса подгонки номинала радиодеталей;
- устройство и способы проверки на точность обслуживаемых приборов, масс-спектрометров и течеискателей;
- принципиальные электрические и вакуумные схемы и схемы соединений;
- назначение, принцип работы источников ионов с электронной бомбардировкой и приемных систем;
- основы разделения ионов в масс-анализаторе;
- назначение и принцип действия электронно-измерительных приборов, используемых в процессе юстировки и настройки;
- процессы сорбции и десорбции на поверхностях, находящихся под высоким вакуумом;
- основные законы движения заряженных частиц в условиях электрического и магнитного полей;
- технологическую последовательность юстировки масс-спектрометров;
- определение допустимых величин сопротивлений после подгонки;
- основные законы электротехники в пределах выполняемой работы.
Примеры работ:
- 1. Масс-спектрометры однополюсные - юстировка, проверка, настройка.
- 2. Микросхемы - подгонка сопротивлений с точностью +/- 2 - 1%.
- 3. Резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью +/- 2 - 1%.
- 4. Течеискатели масс-спектрометрические - юстировка, настройка, проверка.
5-й разряд
Характеристика работ:
- Юстировка и настройка электронных приборов и электронографов отечественного производства или зарубежных моделей.
- Юстировка резисторов сложных гибридных микросхем с точностью +/- 1 - 0,5% до номинала или соотношений двух и более резисторов с точностью +/- 5% и менее с помощью оптического квантового генератора.
- Электрическая проверка аналитической части масс-спектрометров.
- Уменьшение аберраций и дискриминационных эффектов.
- Ввод газов и паров жидкости в анализатор.
- Подготовка твердой пробы для анализа.
- Определение неисправностей в настраиваемых приборах и их устранение.
- Составление макетных схем для проверки управления работой узлов масс-спектрометров.
Должен знать:
- устройство, способы проверки на точность, принципиальные электронные, электрические и вакуумные схемы обслуживаемых приборов, методы определения разрешающей способности электронных микроскопов;
- методы изготовления диафрагм;
- способы получения эталонных электронограмм и определение константы прибора;
- правила перенастройки микроскопов в различные режимы (дифракция, микродифракция, отражение и т.д.);
- устройство электроизмерительных приборов и приспособлений, применяемых при юстировке и настройке приборов;
- принцип установления режимов работы систем ионообразования в процессе юстировки;
- влияние рассеянных полей на фокусировку заряженных частиц;
- основные правила по приготовлению объектов.
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ:
- 1. Масс-спектрометры времяпролетные, промышленного контроля и хромато-эффузиомасс-спектрометры - настройка и юстировка.
- 2. Микроскоп УЭМ-6Т электронный - настройка и юстировка.
- 3. Микроскоп EF-4 (Германия) электронный - перестройка из режима "на просвет" в режим дифракции.
- 4. Микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-4 - перестройка ЭОС в режим дифракции, устранение одного, двух видов аберраций; работы в режимах "вторичные или отраженные электроны", в режиме микроанализа.
- 5. Рентгеновский электронно-оптический преобразователь - юстировка плоскостная и центровка.
6-й разряд
Характеристика работ:
- Юстировка и настройка масс-спектрометров, а также электронно-вычислительных приставок и масс-спектрометрических информационно-управляемых систем в соответствии с техническими инструкциями, программами лабораторий госнадзора, специальными инструкциями.
- Настройка и юстировка различных типов электронных микроскопов и электронографов отечественного и зарубежного производства.
- Юстировка и настройка опытных образцов электронных микроскопов, электронографов, масс-спектрометров и участие в их испытаниях.
- Разработка методик абсолютных и относительных измерений на масс-спектральных приборах.
- Работа по стыковке масс-спектральных приборов с комплексами электронно-вычислительных машин (ЭВМ), ввод программы и обеспечение режимов управления ЭВМ масс-спектрометрическими приборами.
Должен знать:
- конструкцию, способы и правила проверки на точность масс-спектрометров и различных типов микроскопов, их электронные и электрические схемы;
- все виды аберраций и их устранение;
- способы, правила и последовательность юстировки серийных масс-спектрометров;
- принципы установления режимов работы систем новообразования, развертки спектромасс, детектирования заряженных частиц;
- источники питания линз и пушки, их параметры и настройку;
- критерии предельной разрешающей способности электронного микроскопа;
- методы выявления неисправностей в настраиваемых приборах и способы их устранения.
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ:
- 1. Масс-спектрометры вторичной ионной эмиссии, квадрупольные, лазерные, одинарной и двойной фокусировки - настройка и юстировка.
- 2. Микроанализаторы ХА-ЗА растровые (Япония) - настройка и юстировка.
- 3. Микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-2, РЗИП-4 - настройка, проверка, юстировка, устранение всех видов аберраций; перестройка ЭОС в различные виды работ (отражение, дифракция, микродифракция и т.д.).
- 4. Микроскопы электронные - замена электронных ламп и опорных батарей в блоке стабилизатора высокого напряжения и последующая юстировка.
- 5. Микроскопы РЭМП-4, МТР-6 - настройка источников питания и высоковольтных источников.
- 6. Микроскопы растровые "Минисэм" (Япония), "Квикскан" (Япония) - настройка и юстировка.
7-й разряд
Характеристика работ:
- Юстировка и настройка цветных дисплейных комплексов с подбором, корректировкой и измерением параметров отклоняющей системы; изменение распределения магнитного поля в кинескопе на основе анализа деформации электронных триад.
- Измерение и вычисление по формулам параметров "геометрические искажения растра", координат цветности свечения экрана, яркостных характеристик комплекса.
- Работа с испытательным оборудованием, колориметром, яркомером, контрастомером.
Должен знать:
- методы определения последовательности процессов испытания дисплейных комплексов;
- правила вычисления электрических параметров и светотехнических характеристик при помощи формул, таблиц, графиков, монограмм.
Требуется среднее профессиональное образование.